合金分析仪是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长(λ)及能量(E)确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。XRF度普术就能测定物质的元素构成。
每一个原子都有自己固定数量的电子(负电微粒)运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子(正电微粒)数量。从元素周期表中的原子数可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称。能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了*里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道*为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层。
在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将*里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。
使用合金分析仪测量涂层的两大好处：
1.准确的厚度测量有助于制造商提供高质量的产品和控制成本。涂层厚度严格;涂层太厚会增加制造成本。客户还可以测量涂层材料，以确保产品涂有正确的涂层和正确的厚度。
2.使用快速、高效、无损的手持合金分析仪有助于在生产线和现场提供质量控制。手持合金分析仪可以在10秒内提供测试结果，并且可以通过准直器进行改进。准直器测试可在30秒内完成。手持XRF光谱仪不会损坏被测材料。由于手持合金分析仪体积小、携带方便、手持方便，因此可以方便地检测大样本，否则必须将其切成小块才能使用台式XRF光谱仪进行检测。
