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X射线金属镀层测厚仪

更新时间:2020-04-13

简要描述:

X射线金属镀层测厚仪是天瑞仪器的优势产品,打破了国外垄断的局面,主要用于金属镀层——镀金,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜,镀银,镀铑,镀钯等厚度的检测,广泛应用在电器电器、五金工具、汽车配件、高压开关、制冷设备、精密五金、电镀加工、卫浴、PCB线路板等企业,thick8000是天瑞仪器款的,三维移动平台和高清射线系统,使整个测试更加精确、清晰。

产品介绍

 

X射线金属镀层测厚仪是天瑞仪器的优势产品,打破了国外垄断的局面,主要用于金属镀层——镀金,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜,镀银,镀铑,镀钯等厚度的检测,广泛应用在电器电器、五金工具、汽车配件、高压开关、制冷设备、精密五金、电镀加工、卫浴、PCB线路板等企业,thick8000是天瑞仪器款的X射线金属镀层测厚仪,三维移动平台和高清射线系统,使整个测试更加精确、清晰。

 

性能优势

 

精密的三维移动平台

的样品观测系统

*的图像识别

轻松实现深槽样品的检测

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;

直接点击全景或局部景图像选取测试点;

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

四种微孔聚焦准直器,自动切换

双重保护措施,实现无缝防撞

采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动自检、复位;

 

技术指标

 

SDD探测器:分辨率低至135eV

分析元素范围:硫(S)~铀(U

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

同时检测元素:zui多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

*的微孔准直技术:zui小孔径达0.1mm,zui小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器:0.3×0.05mmФ0.1mmФ0.2mmФ0.3mm四种准直器组合

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃30℃

仪器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

样品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

样品台尺寸:393Wx 258 Dmm

 

厂家介绍

 

江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。 2011125日,天瑞仪器在深圳创业板块上市。股票代码为300165

 

公司的X荧光检测技术具有快速、精确、无损的特点。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域,如:电子电器(RoHS检测)、珠宝首饰(贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71-3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素SPb等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。

 

 

 

部分产品

 

 x-ray膜厚仪,镀金镀银测厚仪,ROHS检测仪(EDX1800EDX1800B),直读光谱仪, ROHS检测设备,手持式合金分析仪,气相质谱仪,液相质谱仪,原子荧光光谱仪,电感耦合等离子发射光谱仪,手持式光谱仪,等离子体质谱仪, 镀层膜厚测试仪,便携式不锈钢材质检测仪,合金材质光谱检测仪,便携式X荧光能谱仪,X荧光镀层测厚仪,X荧光光谱仪,不锈钢合金分析仪,ROHS六项检测仪,X射线荧光测厚仪,X荧光测厚仪,ROHS仪器,气质联用仪,液质联用仪,ROHS卤素检测仪,便携式水质重金属检测仪,x荧光光谱分析仪,手持式xrf合金分析仪,手持式光谱分析仪,x射线荧光测厚仪,气相色谱质谱联用仪,液相质谱联用仪,便携式合金分析仪,ROHS测试仪,x-ray镀层测厚仪,环保ROHS检测仪,ROHS荧光光谱仪,手持式金属检测仪,手持式水质重金属分析仪,镀层检测仪,手持式金属材料分析仪,手持式光谱仪,X射线金属镀层测厚仪等仪器。

 

售后服务

 

售后服务片区(划分)、和技术引导与维护。服务片区划分已经*覆盖全国主要省市,主要根据客户的分布和公司业务区域的划分,把中国大陆划分12个工作区域, 包括:广州、佛山、湖北片区,厦门片区,珠海、中山、云贵川片区, 山东片区,苏州、安徽、上海片区,北京、天津、河南、河北片区,惠州、汕头、福建片区,深圳、东莞片区,浙江片区、山西、陕西西北片区,青海片区、东北三省片区。另外,除中国大陆以外片区香港、中国台湾及海外片区。公司通过等远程维护、*、返厂维修以及对客户使用人员的技术培训来实现技术的应到和维护。

天瑞仪器作为X射线金属镀层测厚仪生产厂家,分析仪器上市公司,产品质量、售后服务、价格都具有的优势。

 

工作原理

 

若一个电子由轨道游离,则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置,以达到稳定的状态,此种不同能阶转换的过程可释放出能量,即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同,所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。

 

下述可描述X-射线荧光的特性:若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道,一个K轨道上的电子已事先被游离,另一个电子即代替他的地位,此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量,如辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射,而辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射,其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域,此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为辐射,此是由M轨道之电子跳入L轨道及辐射,此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中 。由于辐射能量约为11%,而辐射能量较大约20%,所以以能量的观点是很容易区分的。

 

原子的特性由原子序来决定,亦即质子的数目或轨道中电子的数目,即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多,而不同的原子序也会造成不同的能量差。

 

特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后,即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。

 

使用X-射线荧光原理测厚,将被测物置于仪器中,使待测部位受到X-射线的照射。此时,特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生,而检测系统将其转换为成比例的电信号,且由仪器记录下来,测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。

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深圳市天瑞仪器有限公司

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