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国产x光镀层测厚仪

更新时间:2020-04-13

简要描述:

国产x光镀层测厚仪X 光镀层测厚仪是一款快速无损的镀层测厚仪器,主要对镀金层、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜等金属镀层厚度测试,产品广泛应用于五金工具、电子线路印刷板、开关、 铝镀锌企业等,江苏天瑞仪器股份有限公司生产的THICK8000X光镀层测厚仪(国产厂家)是在THICK600、THICK800A的基础上做了进一 步的升级,三维移动平台,高清摄像系统,使整个测试过程更加清晰,测试结果更加准确,对微小

X 光镀层测厚仪是一款快速无损的镀层测厚仪器,主要对镀金层、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜等金属镀层厚度测试,产品广泛应用于五金工具、电子线路印刷板、开关、 铝镀锌企业等,江苏天瑞仪器股份有限公司生产的THICK8000X光镀层测厚仪(国产厂家)是在THICK600、THICK800A的基础上做了进一 步的升级,三维移动平台,高清摄像系统,使整个测试过程更加清晰,测试结果更加准确,对微小点和微距离点的测试更加精准。

【国产x光镀层测厚仪技术指标】

分析元素范围:从硫(S)到铀(U) 
同时检测元素:zui多24个元素,多达五层镀层(镀镍、镀金、镀银、镀锡等)
检出限:可达2ppm,zui薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
采用*的微孔准直技术,zui小孔径达0.1mm,zui小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 
稳定性:可达0.1%
Ф0.3mm四种准直器组合
操作环境湿度:≤90%
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s zui高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境温度 15℃~30℃
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

【国产x光镀层测厚仪测试实例】

在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素,大大提高测试稳定性、降低检测限。

Thick 8000x光镀层测厚仪检测谱图

某国外x光镀层测厚仪仪器检测谱图

11次测量结果(Au-Cu)的稳定性数据对比如下:

 

次数

Thick8000x光镀层测厚仪

行业内其他仪器

1

0.042

0.0481

2

0.043

0.0459

3

0.043

0.0461

4

0.0412

0.0432

5

0.0429

0.0458

6

0.0436

0.0458

7

0.0427

0.0483

8

0.0425

0.045

9

0.0416

0.0455

10

0.0432

0.0485

11

0.0422

0.043

平均值

0.0425

0.0459

标准偏差

0.0007

0.0019

相对标准偏差

1.70%

4.03%

极差

0.0024

0.0055

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