更新时间:2020-04-13
SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和*的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更的测试。
仪器介绍
SUPER XRF 2400PCB镀层厚度荧光光谱仪是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和*的光路系统测试 (超锐模式),普通模式能完成全元素,贵金属,RoHS,镀层等常规测试,超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更的测试。主要是使用天瑞仪器*超锐光路系统,降低仪器的背景噪音,提高仪器的检出能力,从而提高仪器的整体检测性能。
技术指标
元素分析范围从钠(Na)到铀(U)
可进行测试模式之间的转换,提高测试的效率
可对10个样品进行自动切换测试
一次可同时分析多几十种元素
分析检出限可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
*工作稳定性为0.1%
温度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
标准配置
超锐X光源和样品激发机构
上盖电动开关的大容量样品腔
可自动切换的准直器,滤光片
高清晰CCD摄像头
SDD探测器
数字多道采集处理系统
高低压电源
进口400W端窗光管油冷散热系统,具有自动控温功能
样品自动切换系统
全自动真空系统
专业X荧光分析软件
计算机及喷墨打印机
外观尺寸: 752(W)x759(L)x 988(H)
样品腔尺寸:¢376×50 mm
重量:小于250Kg
性能特点
特殊光路系统
采用特殊的光路系统,可满足不同基体中痕量元素的测量,提高信噪比,降低检出限。
400W大功率X光源
400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率,比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级,更加适合痕量元素的检测。
数字多道技术
采用新数字多道技术,仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。
油冷散热系统
油冷散热系统,保证了大功率X光源的散热,使仪器的运行更加稳定。
光闸系统
光闸系统,保证X光源的稳定性,同时提升X光管使用寿命。
抽真空系统
抽真空系统,可以满足轻元素的测量。