更新时间:2020-04-13
X-Ray电镀膜厚测试仪(thick680)是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更...
仪器介绍
X-Ray电镀膜厚测试仪(thick680)是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成,测试简单,方便,易于人员快速掌握.
性能特点
专业贵金属检测、镀层测厚仪
内置信噪比增强器,可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能贵金属软件,与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序
技术指标
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:Ti~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm
标准配置
X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。
应用领域
X-Ray电镀膜厚测试仪主要用于金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。广泛应用于电子电器、五金工具、精密汽车配件、表面处理、PCB线路板等企业。