天瑞仪器x射线荧光测厚仪thick600

硬件配置

主机壹台

含下列主要部件：

(1)X光管                      (2)Si-PIN电制冷半导体探测器

(3)放大电路                   (4)高清晰摄像头

(5)高压系统                   (6)单样品腔

标准附件

准直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可选其中一种）

天瑞仪器x射线荧光测厚仪thick600技术指标

分析元素范围：K-U

分析厚度检出限达0.005μm

高压：5kV-50kV

x射线荧光测厚仪同时可分析多达5层镀层

管流：50μA-1000μA

测量时间：5s-300s

样品腔尺寸：306mm×260mm

计数率:0-10000cps

天瑞仪器x射线荧光测厚仪thick600环境要求

工作电源：交流220±5V

周围不能有强电磁干扰

环境温度要求：15℃-30℃

环境相对湿度：<70%

部分产品 

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应用领域

x射线荧光测厚仪（国产）广泛应用于PCB、卫浴、五金工具、电子电器、气配五金、电镀等企业。