产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > > 电镀层测厚仪 > thick680x荧光(x-ray)镀层测厚仪thick680

x荧光(x-ray)镀层测厚仪thick680

更新时间:2020-04-13

简要描述:

x荧光(x-ray)镀层测厚仪thick680快速检测镀层厚度分析,质量稳定性价比*,天瑞x荧光测厚仪适合用于电镀加工企业,五金厂,汽车零部件,PCB线路板,手机连接线,电脑配件,首饰加工等行业。

x荧光(x-ray)镀层测厚仪的工作原理是利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。

  

Thick 680 x荧光(x-ray)镀层测厚仪是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以*的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成

性能特点

专业贵金属检测
智能贵金属软件,与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序

技术指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
X射线管:管电压50KV,管电流1mA
可测元素:Ti~U
检测器:正比计数管
样品观察:CCD摄像头
测定软件:薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度 20mm

标准配置

X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
深圳市天瑞仪器有限公司

深圳市天瑞仪器有限公司

地址:深圳市宝安区松岗芙蓉东路桃花源科技创新园22层AB区

备案号:  总访问量:140730  站点地图  技术支持:环保在线  管理登陆

Baidu
map