更新时间:2020-04-13
X射线荧光分析仪测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量含量范围:ppm~99.99%检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以准直器和滤
元素 | Si | Mn | P | S |
含量范围(%) | 0.1~1.0 | 0.1~1.0 | 0.05~0.10 | 0.010~0.10 |
测量精度(SD) | 0.02 | 0.015 | 0.004 | 0.002 |
项目 | 传统化学分析方法 | X射线荧光分析仪 |
分析速度 | 分析速度比较慢,快速的测试方法也要10~30min得到测试结果 | 一般只需2~5min就可以得到测试结果结果 |
分析效果 | 测试结果受人为因素影响很大,测试结果重复性不高 | 几乎无人为因素影响,测试精度很高,测试重复性很高 |
劳动强度 | 全手工分析劳动强度大 | 测试过程大部分由仪器完成,人员劳动强度极低 |
同时分析元素数 | 一般一次只能分析一个元素 | 同时可分析几十种元素 |
是否与化学组份、化学态有关 | 受到待测元素的价态及化学组成的影响,样品不同的价态和化学组成要采用不同的化学分析方法 | 纯物理测量,与样品的化学组份、化学态无关 |
分析测试成本 | 需要大量的化学药品,和较复杂的处理过程,测试成本比较高 | 除需要简单的制样物品,不需要化学药品,样品处理过程简单,测试成本很低 |
人员要求 | 对测试人员需要进行*严格的培训,人员操作技术要求高 | 对人员技术要求很低,普通的工人经过简单的培训即可熟练操作使用 |